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CASW-62G復(fù)合開(kāi)關(guān)缺點(diǎn)


(1)實(shí)際運(yùn)行情況已經(jīng)表明了復(fù)合開(kāi)關(guān)的故障率相當(dāng)高。
(2)由于采用了可控硅等電子元器件其結(jié)構(gòu)復(fù)雜成本上升,與交流接觸器在價(jià)格上難以相比。
(3 )復(fù)合開(kāi)關(guān)的過(guò)零是由電壓過(guò)零型光耦檢測(cè)控制的,從微觀上看它并不是真正意義上的過(guò)零投切,而是在觸發(fā)電壓低于16V~40V時(shí)(相當(dāng)于2~5電度)導(dǎo)通,因而仍有一點(diǎn)涌流。
(4)復(fù)合開(kāi)關(guān)技術(shù)既使用可控硅又使用繼電器,于是結(jié)構(gòu)就變得相當(dāng)復(fù)雜,并且由于可控硅對(duì)dvldt的敏感性也比較容易損壞。

由上述分析比較可見(jiàn),各種電容器投切開(kāi)關(guān)并非十分完美,有必要進(jìn)一步研究開(kāi)發(fā)出一種更為理想的電容器過(guò)零投切開(kāi)關(guān)。

首頁(yè) > 技術(shù)資料 > 日期:2022-6-25 來(lái)源:www.anarchyalive.com 作者:前前 瀏覽量: